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2019-12-03
壓電材料簡介及其技術(shù)參數(shù)壓電材料是受到壓力作用時(shí)會(huì)在兩端面間出現(xiàn)電壓的晶體材料。1880年,法國物理學(xué)家P.居里和J.居里兄弟發(fā)現(xiàn),把重物放在石英晶體上,晶體某些表面會(huì)產(chǎn)生電荷,電荷量與壓力成比例。這一現(xiàn)象被稱為壓電效應(yīng)。隨即,居里兄弟又發(fā)現(xiàn)了逆壓電效應(yīng),即在外電場作用下壓電體會(huì)產(chǎn)生形變。壓電效應(yīng)的機(jī)理是:具有壓電性的晶體對稱性較低,當(dāng)受到外力作用發(fā)生形變時(shí),晶胞中正負(fù)離子的相對位移使正負(fù)電荷中心不再重合,導(dǎo)致晶體發(fā)生宏觀極化,而晶體表面電荷面密度等于極化強(qiáng)度在表面法向上的投...2019-12-02
電弧等離子體的介紹及其應(yīng)用電弧等離子體時(shí)處于局部熱平衡狀態(tài)的等離子體,比受控核聚變反應(yīng)中*電離的高溫等離子體溫度(188K)低得多,溫度大約3000-5000K。但是他的電流密度高,能量集中,氣體焓高,反應(yīng)氣氛可控制為氧化、還原、惰性氣氛。他的產(chǎn)生和維持不像高溫核聚變等離子體那樣困難,因此可以用于完成許多常規(guī)方法無法完成的工藝過程,得到常規(guī)方法不能獲得的產(chǎn)品。例如各種金屬的切割、焊接、熔煉、耐熱涂層的噴涂、微粒的球化處理、介電材料的加工;金屬、陶瓷超細(xì)粉末的制取如氮化物粉末,...2019-11-29
居里溫度當(dāng)溫度高于居里溫度(Tc)時(shí),壓電陶瓷處于順電相,自發(fā)極化和壓電性也隨之而消失。在居里溫度處,壓電陶瓷材料的許多物理性質(zhì),如電容率、熱容量、線膨脹系數(shù)都將發(fā)生突變,因此,只要測定這種突變點(diǎn)對應(yīng)的溫度就能夠確定壓電陶瓷材料的居里溫度。縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))在沒有外電場的作用,滿足電學(xué)短路條件強(qiáng)場介電性能壓電陶瓷材料的自由相對電容率和介電損耗角正切值與溫度、濕度、交變電場的頻率、場強(qiáng)和施加電壓時(shí)間有關(guān),場強(qiáng)介電性能即是在強(qiáng)交變電場作用下的介電性能,一般指自由相對電容率和...2019-11-28
高壓極化裝罝對壓電陶瓷逬行高壓極化的三大要素及原則三大要素1、極化電場只有在極化電場作用下,電疇才能沿電場方向取向排列,所以它是極化條件中的主要因素。極化電場越高,促使電疇排列的作用越大,極化越充分。因此,較厚的制品,極化電場因相應(yīng)降低,且通過調(diào)高極化溫度,延長極化時(shí)間達(dá)到好的極化效果。MPD高壓極化裝置極化溫度可達(dá)260℃,升壓時(shí)間,即高壓電源升壓時(shí)間,一般3s以上,5s(經(jīng)典值);測試時(shí)間,根據(jù)電壓高低而定,一般在60S以上(4000V時(shí)),電壓越高,測試時(shí)間越長。2、極...2019-11-26
鐵電材料電性能測試儀結(jié)構(gòu)介紹根椐鐵電簿膜材料的測量內(nèi)容及方法,我們通過分析,設(shè)計(jì)出測量系統(tǒng),它主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器、數(shù)/模轉(zhuǎn)換器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。系統(tǒng)框圖見下圖,硬件系統(tǒng)由一臺(tái)計(jì)算機(jī)、一片帶A/D、D/A及開關(guān)量控制輸出功能的計(jì)算機(jī)接口卡和信號調(diào)理電路部分組成。鐵電材料電性能測量儀結(jié)構(gòu)框圖各種用于測量的信號源由12bit的D/A轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生,輸出電壓范圍為±10V,對于用于研究FeR...2019-11-25
鐵電薄膜鐵電性能的測量方法1、電滯回線測量進(jìn)行電滯回線測量時(shí)圖中電源U提供三角波,頻率和幅度由用戶通過軟件設(shè)定,頻率范為10Hz到10kHz,幅度范圍為0到±10V。通過參數(shù)和樣品的厚度、尺寸參數(shù)很容易通過如下公式計(jì)算出鐵電薄膜樣品的線性電容Cef和線性介電常數(shù)Kef。Cef=Q/V=(P^*Area)/EmaxKef=(Cef*Thickness)/(%*Area)2、漏電流測量(電阻測量)電源U提供0.5秒的直流電壓給被測樣品,電壓值由用戶設(shè)定,樣品的漏電流...2019-11-21
鐵電薄膜鐵電性能——電滯回線的測量方法選擇目前,測量電滯回線的方法較多。其中測試方法簡單、應(yīng)用廣泛的是Sawyer-Tower電路,如圖所示,其中虛框部分為鐵電薄膜樣品的等效電路,Cxi為線性感應(yīng)等效電容,Rx為鐵電薄膜樣品的漏電導(dǎo)及損耗等效電阻,Cxs為與自發(fā)極化反轉(zhuǎn)對應(yīng)的非線性等效電容。Sawyer-Tower電路在理想情況下,若只考慮Cxs的作用(認(rèn)為Cxi與Rx開路),很容易證明Uy與鐵電薄膜樣品的極化強(qiáng)度P成正比。但一般情況下,鐵電薄膜樣品同時(shí)具有漏電導(dǎo)和線性感應(yīng)電...