高溫測量鐵電參數(shù)測試儀本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標和，并且能實現(xiàn)較高的測量，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和化ps、剩余化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù)，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。能夠測量鐵電薄膜的鐵電。儀器采用一體化設計，實現(xiàn)測試結果全數(shù)字化，操作簡單方便。

高溫測量鐵電參數(shù)測試儀優(yōu)點：

可測量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù)

測量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數(shù)及介質損耗測試

可測量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測試

它可測量壓電陶瓷的因數(shù)及機電耦合系數(shù)

可選配不同的測試裝置進行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測試

本儀器可配合高壓放大器實現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測